XJL-302DIC grote positieve differentiële interferentie-fasefoteringsmicroscoop is geschikt voor reflectieve differentiële interferentie-fasefoteringsobservatie van de oppervlaktemorm van ondeurzichtige objecten, en kan ook transparante objecten worden geobserveerd in perspectief. Met behulp van een uitstekende oneindige verre optische systeem en modulair functioneel ontwerpconcept, kan het systeem gemakkelijk worden opgewaardeerd, polarisatie waarneming, differentiële interferentie faseobservatie en andere functies worden bereikt, een compact en stabiel hoog stijf onderwerp, volledig weerspiegelt de anti-trillingsvereisten van microscopische werking. Ideaal ontworpen voor ergonomische vereisten, waardoor het gebruik gemakkelijker en comfortabeler is en de ruimte groter is. Het is het ideale instrument voor de microobservatie van metaalogische weefsels en oppervlaktemorma's voor metallologie, mineralogie en precisietechniek.