Voorbeelden van Xradia 510Versa
fabrikant: ZEISS
Ruimtelijke resolutie: 0,7 micron
Maximale steekproefgrootte: 300mm

CT-technologie heeft een groot potentieel in het karakteriseren van slijt schalie driedimensionale reservoirs, in het bijzonder Nano-CT realiseert nano-scale poreuze driedimensionale stereo waarneming, de resolutie kan bereiken 50 ~ 70nm, in combinatie met beeldverwerkingstechniek kan de connectiviteit van slijt schalie reservoirs heterogeniteit en porositeit voor kwantitatieve evaluatie.

3D CT-metingsgegevens van slijtschalie