1. Optische systemen

1.1 Algemene beschrijving

1.1.1 Dubbele straalsysteem met achtergrondcorrectie en vlammentatie

*1.1.2 De asymmetrische modulatietechnologie zorgt ervoor dat de doorgangstijd van de monsterbraak en de referentiestraal 2:1 is voor het verminderen van lawaai

1.1.3 Volledig reflecterend spiegelsysteem met kwarts coating

1.1.4 Volledig gesloten optisch systeem, stof- en stoombestendig

* 1.1.5 Ingebouwde 15-inch touchscreen computer om laboratoriumruimte te besparen



1.2 Eenkleurige

1.2.1 Algemeen ontwerp: Ebert-Fastie-ontwerp, brandpuntsafstand 333 mm

* 1.2.2 Golflengtebereik 175nm-900nm

* 1.2.3 raster: 1800 draad / mm graveerde dichtheid, dubbele glinsterende golflengte, 1,6 tegenovergestelde diffusiefactor

1.2.4 Selectie van golflengte: automatische selectie van golflengte en automatische piekzoeking

1.2.5 Spijtregeling

* 1.2.5.1 Continue aanpassing, spectrale bandbreedte bereik 0,1-2 nm, aanpassingsstap lengte 0,1 nm

*1.2.5.2 Verminderde slothoogte voor alle slotbreedten

1.2.5.3 Automatische instelling van de breedte en hoogte van de scheuren

1.2.6 Golflengthscan: met automatische scanfunctie



1.3 Detector: breed bereik fotomultiplicator buis



2. Elementaire lichten

2.1 * Hole cathode lamp: het gebruik van de toepassingsmethode om de lichtbron aan te passen. De lichtbron bestaat uit 1 anode en 6 afzonderlijke katoden die 6-21 elementen kunnen analyseren.

2.2 Toepassingsmethode Aangepaste lichtbronnen zijn geoptimaliseerd om een optimale lichtstroom te garanderen.

2.3 Een lamphouder, beschikbaar voor gewone holle katode lampen.



Achtergrondcorrectie

*3.1 Met behulp van superpulse achtergrondcorrectietechnologie voor het corrigeren van achtergrondpieken met lezingsfrequenties van 200 (50 Hz) of 240 (60 Hz) per seconde

*3.2 Het tijdsverschil tussen de achtergrondmeting en de monstermeting is slechts 1 ms voor maximale correctie-nauwkeurigheid

3.3 High precisie deuteriumlamp biedt een correctiebereik van 175-425 nm, kan worden gecorrigeerd tot 2,5 Abs



4. Brandbeheersing

4.1 Algemene beschrijving

4.1.1 Knoppen regelen gaskeuze, ontsteking en uitschakelen

4.1.2 Programmeerbare volgorde van ontsteking en uitschakeling

*4.1.3 Voor lachgas-acetyleenvlam (optioneel), automatische verhoging van de gasverhouding



4.2 Beveiligingskettingen

4.2.1 Druk van lucht, acetyleen en N2O-gassen, type brandkop, waterniveau van de vloeistofval, vlamstatus en hoofdstroom

4.2.2 Elke afwijking zal leiden tot het ontbranden of uitschakelen van de vlam



5. Vuur atomiseringssysteem

5.1 Brandende hoofd

5.1.1 Ontwerp van volledig titanium brandkop

5.1.2 Lengte brandkop: 10 cm, optioneel met een brandkop van 5 cm voor de analyse van hogetemperatuurelementen



5.2 Vervaarger

5.2.1 Voormengen en ontwerp van een harde polypropyleen mengnevelkamer

5.2.2 De verduister maakt gebruik van Pt-Irlegering kapillaren en inerte Venturi buizen om het vermogen om te verzetten tegen zuurschokken te verbeteren

5.2.3 Verstelbare steekproefsnelheid

5.2.4 Inerte slagballen

5.2.5 Geïntegreerde vloeistofdichting met horizontale vergrendeling



5.3 Snel demonteren van grafietovens

* 5.3.1 Met grafietovens snelle demontage functie om de vlam analyse en grafietovens analyse te schakelen



6. Garantie van prestatie indicatoren

*6.1 Gevoeligheid en nauwkeurigheid: Gevoeligheid > 0,8 abs en nauwkeurigheid > 0,45% RSD bij dezelfde meting met behulp van een Cu-oplossing van 5 mg/L

*6.2 Typische detectiegrens: 0,001 ppm voor Cu



7. Grafietovensysteem

7.1 Aftrekking van de achtergrond: achtergrond van deuterium



* 7.2 Grafietbuisverwarming: verticale verwarming



7.3 Grafietovencomponenten

7.3.1 Grafietbuizen en -platforms, geïnstalleerd in een gesloten ruimte met kwartsramen en permanent aangesloten op de stroomvoorziening via een kabel met een gasweg, een koelwaterbuis en een draad

7.3.2 Met 2-weg inerte beschermingsgas

7.3.3 Temperatuurbereik: Kamertemperatuur ~ 3000 ℃

7.3.4 Maximale computerbeheerde opwarmingssnelheid: 2000°C/s

*7.3.5 Temperatuurprogrammering zonder stappenbeperking, elke stap met opwarming en isolatie, gaskeuze en leesopties

*7.3.6 De temperatuurregelaar bewaakt stroom en spanning en biedt nauwkeurige regeling met behulp van energie-feedback binnen het volledige temperatuurbereik, tijdens de verwarmings- en isolatiefase

7.3.7 Veilige vergrendelingsinrichting voor de druk van inert gas en koelwater

7.3.8 Correctie van temperatuurveranderingen in koelwater

Inert gas: Ar of N2, druk 70-200 kPa (10-30 psi)

7.3.10 Koelwater: stroom 1-2 L/mim, druk 100-200 kPa (15-30 psi)



7.4 Automatische monster

* 7.4.1 40 monsters en 10 voorgemengde standaardmonsters (of 1 automatisch gemengd oplosmiddel voor maximaal 10 monsters)

7.4.2 Steekproefvolume: 2 ml (voor het bemonsteren en het bemonsteren), 5 ml (voor het automatisch mengen van het bemonsteren), 10 ml (voor lege oplossingen en chemische verbeteringsmiddelen)

7.4.3 Invoer van monsters: 1-100 μl, ingesteld in incrementele programmering van 1 μl

7.4.4 Kapillaren van volledig PTFE materiaal

7.4.5 1 liter reinigingsvloeistof tank

7.4.6 Afhankelijk van de opgeslagen coördinatenwaarde, wordt de locatie van de computergestuurde sonde ingesteld

7.4.7 Procedureopties omvatten: standaard automatisch mengen, standaard toevoegen automatisch mengen, chemische regulator automatische injectie, meerdere monster injectie, automatische re-kalibratie en volledige re-kalibratie, monster validatie en toevoegen recycling



8. Hydrogengeneratoren

8.1 Algemene beschrijving

8.1.1 Continuous flowing hydrogen and cold steam generation systems voor de analyse van As, Sb, Se, Te, Bi, Ge, Sn & Pb op ppb-niveaus

8.1.2 Hg dat tegelijkertijd kan worden gebruikt voor de analyse van ppb-niveaus met de koelstoommethode

8.1.3 Geproduceerd in de oorspronkelijke fabriek van de leverancier van atomische absorptie en beheerd door software voor de bediening van atomische absorptie



8.2 Analyse van prestaties

* 8.2.1 Sample productiviteit: 60 stuks / uur

* 8.2.2 Op ppb-niveau, nauwkeurigheid RSD < 1%



9 Software

9.1 Algemene beschrijving

9.1.1 Softwareplatform gebaseerd op Windows 7

9.1.2 Engelse of Chinese versie beschikbaar

9.1.3 Alle instrumenten en accessoires van hetzelfde merk kunnen worden gecontroleerd



9.2 Gegevensverwerking

9.2.1 Analyse van atoomabsorptie of emissie

9.2.2 Absorptiebereik tot 3,0 Abs

9.2.3 Metwijze: Integraal, meetgemiddelde, piekhoogte of piekoppervlakte

*9.2.4 Gemiddeld tot 50 herhaalde lezingen en RSD

9.2.5 Correctiecromen voor maximaal 10 modellen

9.2.6 Correctie van lineaire minimale vlakke curve

9.2.7 Correctie van de curve van de lineaire minimale gelijke methode over nul

9.2.8 Correctie van nauwkeurige passende curven

9.2.8 Correctie van polynomische curven

9.2.10 Standaardtoevoeging of indeks

9.2.11 kan worden geprogrammeerd op basis van de cumulatieve tijd van het bemonsteren of het cumulatieve aantal bemonsteren om te controleren wanneer een enkele bemonstering wordt uitgevoerd om de helling te berekenen of een volledige herkalibratie te doen

9.2.12 Wachtwoordbeveiligde analyseresultaten die het verwijderen van ongewenste proeven of proefmetingen mogelijk maken

9.2.13 Correctie van gewicht of verdunningsmiddel

9.2.14 Alle bewerkingen kunnen tijdens en na de analyse worden uitgevoerd



9.3 Grafische weergave

9.3.1 Kleurenscherm met hoge resolutie: atoomabsorptiesignaal, achtergrondsignaal, grafietoventemperatuurprogramma, correctiecorven, piekmeting en golflengtescan

9.3.2 Meerdere grafische weergave modussen, inclusief overlappende niet-continue pieken

9.3.3 Optionele tracking absorptie regelaar

9.3.4 Grafische cursor kan worden gebruikt om digitale informatie te verkrijgen uit grafische tracking

9.3.5 Vergroting van het venster kan het grafische traject uitbreiden



9.4 Digitale opslag

9.4.1 Alle gegevens kunnen worden opgeslagen, inclusief het koppelen van grafische trajecten en analyseresultaten

9.4.2 Ook kunnen de volgende gegevens worden opgeslagen: analysemethoden, monsteretiketten, volgorde van de monsters, volgorde van de methoden, gewicht en verdunningsmiddelen, hoofd- en voettekst van het analyserapport, kalibratie- en analyseresultaten



9.5 Rapporten maken

9.5.1 Rapporten kunnen worden afgedrukt uit alle opgeslagen analyseresultaten, of het nu gaat om een enkelvoudige analyse of een lijst met meerdere elementen die verschillende tests en verschillende technieken combineren

9.5.2 Alle operationele parameters, kalibreringsafbeeldingen, kopteksten, methodenbeschrijvingen, steekproef-etiketten, resultaatstatistieken en gewichts- en verdunningsfactoren kunnen worden afgedrukt

9.5.3 Software ondersteunt meerdere typen printers



9.6 Kwaliteitscontroleovereenkomsten

9.6.1 Alle kwaliteitscontrolefuncties beschikbaar, inclusief controlemonsters, toegevoegde recycling, kwaliteitscontrole boven- en ondergrenzen, kalibreringscorrecties

9.6.2 Controles kunnen worden uitgevoerd op basis van vooraf ingestelde analyseintervallen of het aantal analyses

9.6.3 Afwisselende controles kunnen willekeurig worden uitgevoerd

9.6.4 Alle inspecties hebben foutlimiten en foutacties die de operator kan instellen

9.6.5 Alle fouttesten kunnen worden gemarkeerd





<