Het monster dat voor de EBIC-test wordt getest moet een halfgeleidermateriaal zijn en een intern elektrisch veld bevatten dat wordt gebruikt voor het scheiden van elektronengatenparen.
Door het meten kunnen we de locatie en breedte van de PN-knoop krijgen, de eigenschappen van de rectificatie bepalen door middel van IV-curve-studies, de lengte van de diffusie van een paar dragers kunnen bestuderen, de locatie van de gebreken kunnen bestuderen, de foutanalyse van elektronische apparaten.

Voorbeeld 1: Test PN knooppositie, breedte, minor diffusie lengte

Voorbeeld 2: Test de bitfoutdichtheid van halfgeleidermateriaal en kwantitatief berekenen van de schroeffout in het Si-zonnecelmateriaal.