Shanghai Pei Blue Optoelectronische Technologie Co., Ltd.
Home>Producten>Multi-probeur nanodeeltjesmetingssysteem nanoSAQLA
Bedrijfsinformatie
  • Transactieniveau
    VIP-lid
  • Contact
  • Telefoon
    13331917708
  • Adres
    Kamer 1019, gebouw 3, Lane 1000, Lingshan Road, Pudong, Shanghai
Neem nu contact op
Multi-probeur nanodeeltjesmetingssysteem nanoSAQLA
Instrumenten voor het meten van deeltjesgrootte (deeltjesgrootte 0,6 nm tot 10 μm) met behulp van de dynamische lichtverspreidingsmethode (DLS-methode
Productdetails

Instrumenten voor het meten van deeltjesgrootte (deeltjesgrootte 0,6 nm tot 10 μm) met behulp van de dynamische lichtverspreidingsmethode (DLS-methode).

Kan overeenkomen met een breed scala van tests, lage concentratie tot hoge concentratie, nieuwe optische afdeling, licht • klein, laboratorium standaard. Een standaard snelheidsmeting van 1 minuut.

多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA(图1)

Kenmerken

  • Met slechts één, 5 probes eenvoudig meten

  • Voor lage tot hoge concentraties

  • Hoge snelheidsmeting, standaardtijd 1 minuut

  • Met eenvoudige meetfunctie (1-knop meten)

  • Ingebouwde niet-ondergedompelde celblok, zonder afval

  • Met temperatuurgradiëntfunctie

Meetbereik

  • Deeltjesgrootte 0.6nm ~ 10μm

  • Concentratiebereik 0,00001 tot 40%

  • Temperatuurbereik 0-90 ℃*

Productspecificaties

Modelnummer

Multi-probeur NANO deeltjesgrootte meten systeem

Meetprincipe

Dynamische lichtverspreidingsmethode

Lichtbronnen

Halfgeleiderlaser met hoge vermogen*1

Detector

Hoge gevoeligheid APD

Continue meting

5 Inspectie

Meetbereik

0.6nm ~ 10μm

Overeenkomstige concentratie

0.00001 ~ 40% *2

temperatuur

0 tot 90 ℃ (met temperatuurgradiëntfunctie) *3

Specificaties

Volgens ISO 22412:2017

Volgens JIS Z 8828:2013

Volgens JIS Z 8826:2005

Afmetingen

W240 X D480 X H375 mm

gewicht

ongeveer 18 kg

De software

Gemiddelde deeltjesgrootte analyse (cumulatieve analyse)

Kortelgrootteverdeling analyseren

(De wet van Marquardt/NNLS/Contin/Unimodal)
Kortelgrootte verdeling overlap
Omgekeerde correlatie functie / residuale plot
deeltjesgrootte monitor
Deeltjesgrootteweergave (0,1 tot 106 nm)
Functie van moleculair gewicht berekening

1 Het beveiligingsniveau van dit instrument is niveau 1 volgens het niveau van de laserveiligingsbenchmark (JIS C6802).
2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、 Galzuur: ~40%
3 Situatie van batchmeting van standaard glascel.


Online onderzoek
  • Contactpersonen
  • Bedrijf
  • Telefoon
  • E-mail
  • WeChat
  • Verificatiecode
  • Berichtinhoud

Succesvolle operatie!

Succesvolle operatie!

Succesvolle operatie!