Productbeschrijving
Comprehensieve Maar Roughness Contour Meter
De MarSurf XCR 20
Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20 - de MarSurf XCR 20 combineert alle functies van de XC 20 en de XR 20 in één ontwerpeenheid.
MarSurf XCR 20 - Beschrijving
Een nieuwe generatie van contour- en ruwheidsmeetsystemen. De MarSurf XCR 20 is een profiel- en ruwheidsbeoordelingssysteem. Ruwheid en contour beoordeling software heeft een onafhankelijke bedieningsinterface. Het oppervlaktemeetsysteem van de MarSurf XCR 20Mahr maakt semi-automatische processen zoals het meten van de positionering van de kolommen (S750 CNC) eenvoudig.
Besparing van meetruimte (MarSurf PCV 200 contour drive unit en GD 25 roughness drive unit) kan worden gebruikt in combinatie met een gecombineerde vasthouder op het meetwerkbord ST 500 of ST 750
Gebruik de aandrijving LD120 voor eenmalige metingen van profiel en ruwheid
Voor onderdelen die een verticale en hoge resolutie vereisen, kan de MarSurf LD 120 een hoge nauwkeurigheid leveren voor het meten van één-stroke contouren en ruwheid tegelijkertijd
De snelle wijziging van ruwheid- en profijtmetingen kan rechtstreeks op het softwareplatform worden gekozen, terwijl de aandrijvingen en sensoren ook kunnen worden vervangen Versie
Geïntegreerde meetapparatuur - een meetwerktafel en twee aandrijvingen (PCV 200 en MarSurf GD 25)
Geïntegreerde meetapparatuur met snelle omschakeling (PGK 120PCV 200)
De MarSurf LD 120-sensor
Contuur- en ruwheidsmetingen met één enkele meting tegelijkertijd verkrijgbaar! Meetbereik van 10 mm, resolutie van 4 nm, meetconfiguraties zoals: lage trillingsmeetkracht met hoge herhaalbetrouwbaarheid.
Met de MarSurf LD 120 kunt u gebruik maken van de superieure prestaties van MarSurf-producten.
Meting/beoordeling: De MarSurf XR 20-software voor het Windows-besturingssysteem is beschikbaar in meerdere talen, waaronder Duits, Engels, Frans, Italiaans en Spaans.
Parameters en profielen van de MarSurf XCR20 ruwheidsmeter: meer dan 65 parameters voor R-profielen, P-profielen, W-profielen en motieven met tolerantiemonitoring en statistische functies. Lijst met parameters en karakteristieke curven.
Meetbereik: ± 25 µm tot ± 2500 µm, afhankelijk van het type sensor dat wordt gebruikt.
Aantal bemonsteringslengten N: 1 tot 5, of 1 tot Nmax in de N x Lc-modus, Nmax = meetlengte / Lc-filterinstelling van de aandrijveneut)
Filtertype: GS / 2RC / SF ISO 13565-1 / NEG / ARC - (boog verwijderen) - Ondersteuning voor het selecteren van andere speciale filters
Bemonsteringslengte Lc: vrij instelbaar Lc, 25 mm, Lc = f(lt); 0,025 mm / 0,08 mm / 0,25 mm / 0,8 mm / 2,5 mm / 8 mm en korte golflengte Lc, standaard bemonsteringslengte volgens ISO 4288, bemonsteringslengte afhankelijk van Lt en dx. Aandrijfeenheid PZK GD 25 PGK 20 PGK 120 PRK (via PAV 62)
