Leica metalische microscoopDM12000MMet behulp van het optische principe wordt het gemeten monster geplaatst op een observatieplatform in de microscoop en het beeld van het monster wordt vergroot naar de bril van de microscoop door licht te reflecteren of doorgeven. Onder de eigenschappen van het monster voor lichtverspreiding en absorptie, verandert het beeldverschijnsel van het monster tijdens de beeldvorming voortdurend naarmate de parameters veranderen. De waarnemer kan de microstructuur en het weefsel van het monster beoordelen op basis van deze veranderingen.

Kenmerken van de Leica DM12000M:

Het nieuwe optische ontwerp biedt een snelle eerste inspectie in macro-modus en een kantelnde UV-baanfunctie (OUV, kantelnde UV-waarnemingsmodus), die niet alleen de resolutie verbetert, maar ook de capaciteit van het controleren van 12-inch (300 mm) silicium plaat verbetert. Nieuwe LED-verlichtingstechnologie Geïntegreerd ontwerp en geïntegreerd in de microscoop, lage thermische straling en in-body technologie zorgen voor een ideale luchtstroomstoestand buiten het lichaam.

De DM12000M Leica Metalasemicroscoop verkort het gebruik van de inspectie en verhoogt de inspectieefficiëntie De autofocus-accessoires voor de doorgaande lichtinspectieverlichting zijn geschikt voor alle waarnemingsmethoden van reflecterende lichtverlichting, zelfs met inbegrip van de waarneming van het donkere gezichtsveld en de differentiële interferentiefase. Snelle en nauwkeurige automatische scherpstelling en nauwkeurige scherpstelling in realtime, zelfs bij een verandering van kijkwijze.

Twee soorten verlichtingsapparaten zijn verkrijgbaar, universele en hoge waarde openingstype. Voor FPD-inspecties biedt MASK de juiste verlichting en kan een polarisator worden uitgerust voor eenvoudige polarisatie van het projecteerde licht. Hoog contrast, hogere resolutie, hogere vergrootingsinspectieFluorescentie waarnemingsmethode voor de inspectie van fotogravuurresiduen Fluorescentie spectroscoopmodules UV-optische systemen kunnen hogere contrasten en resoluties leveren met resoluties tot 0,12 μm.

4, beschikt over een verscheidenheid aan fluorescentiemethoden zoals U.B.G. voor optische lijmresten en OLED-inspectie. Handige communicatie-interface voor de controle en parameters van de vergrooting van de microscoop en de apertuur van de opticale apensie RS232C verkrijgen voor de interne inspectie van wafers en apparaten en zelfs lasvoeten voor nabij-infrarood observatie De standaard accessoires omvatten een RS232C-interface die het mogelijk maakt om de elektrische delen van de microscoop te besturen met een pc en het mogelijk maakt om meerdere microscopen op de proceslijn te laten werken in dezelfde instellingstoestand.

5, inclusief gespecialiseerde infrarood objectieven en andere accessoires, de afwijking van zichtbaar licht tot nabij infrarood licht corrigeren, voor diepe of interne inspectie van IC, kan de volledige inspectie van WAFER BUMP bereiken.

Het energiebesparende ontwerp met een laag energieverbruik verlengt de levensduur sterk en voldoet aan het groene milieubeschermingsconcept. Een enkele-klik bediening ontwerp maakt het eenvoudig voor de gebruiker om de vergrooting conversie en de bijbehorende verlichting en lining effecten te voltooien.