Amerikaanse luchtmacht1951Jaarlijkse resolutie test diagrammen zijn altijd de algemene standaard ter wereld voor het detecteren van verticale en horizontale resoluties.MIL-STD-150AStandaard resolutie test patroon, door de Amerikaanse luchtmacht1951jaar van oprichting.1951 Amerikaanse luchtmachtResolutietestkaarten worden momenteel veel gebruikt voor het testen van de resolutie van optische beeldvormingssystemen zoals microscopen en camera's. Dit patroon bestaat uit een combinatie van verschillende groepen van drie korte lijnen, die van groot tot klein zijn. De maximale kortetermijngroep die het beeldvormingssysteem niet kan identificeren is de grens van zijn resolutievermogen.

Meestal.MIL-STD-150AHet formaat bestaat uit verschillende lagen, waarbij het grootste patroon de eerste laag vormt, gelegen aan de rand. De vorm van de kleinere lagen is onveranderd en wordt geleidelijk kleiner van de buitenkant naar het centrum. Elke groep bevat twee groepen.6Een figuur, in cijfers1naar6Het nummer. In dezelfde laag begint een onenige reeks in de rechterbovenhoek, waarvan het element van boven naar beneden wordt gedrukt.1naar6Arrangeren. Het eerste element van een even reeks bevindt zich in de onderste rechterhoek van de laag, terwijl de overige elementen links van boven naar beneden worden ingedrukt.2naar6Arrangeren. De berekening van de resolutie is: Resolutie(lijnparen/mm) = 2(Aantal groepen+((Aantal elementen-1)/6))Dat.
|
Artikelnummer |
Productnaam |
Specificaties |
|
R70 |
USAF Testkaart,Groep 0-7(foto's),element 6,Grootte50×50 mm |
een |
|
R71 |
USAF Testkaart,Groep-2-7(foto's),element 6,75×75 mm |
een |
|
De R75P |
USAF Testkaart,Groep0-9(foto's),element 3,50×50 mm |
een |
|
De R75N |
USAF Testkaart,Groep0-9(negatief),element 3,50×50 mm |
een |
|
De PS75P |
USAF Testkaart,Groep2-9(foto's),element 3,76×25 mm |
een |
|
De PS75N |
USAF Testkaart,Groep2-9(negatief),element 3,76×25 mm |
een |
